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  • HJS-I介質(zhì)損耗（介電常數）測試系統

    高頻介質(zhì)損耗（介電常數）測試系統依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會(huì )IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）和介電常數（ε）自動(dòng)測量的*佳解決方案。

    時(shí)間：2024-06-04
    型號：HJS-I
    廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
    瀏覽量：2383
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